生产或制造的一般附些测试射频和SoC设备
这个页面列出生产或制造业测试在射频和SoC设备包括电压驻波比、回波损耗、增益、智商不匹配,IP3,电话等等。
| 参数 | 采用多次 | 巴勒斯坦权力机构 | 混合机 | 开关 | 发射机 | 接收机 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 电压驻波比 | X | X | X | X | ||
| 回波损耗 | X | X | X | X | X | |
| 插入损耗 | X | X | ||||
| 获得 | X | X | X | |||
| 增益平坦 | X | X | ||||
| 隔离 | X | X | X | |||
| 线性 | X | |||||
| 噪声图 | X | X | X | X | ||
| 动态范围 | X | X | ||||
| 功耗ex.P1dB | X | X | X | X | X | X |
| 三阶互调产物(IP3) | X | X | X | X | X | |
| 三阶截点(钢铁洪流) | X | X | ||||
| 谐波失真 | X | X | X | |||
| 转换损失/收益 | X | |||||
| 互调失真 | X | |||||
| 开关速度 | X | |||||
| 带宽 | X | X | X | X | ||
| 权力添加效率(PAE) | X | |||||
| 杂散输出 | X | X | X | |||
| RF-LO拒绝 | X | X | ||||
| ACPR / ACLR | X | X | ||||
| 相位噪声 | X | X | ||||
| 智商抵消 | X | |||||
| 智商振幅匹配 | X | |||||
| 智商相匹配 | X | |||||
| 输出功率 | X | |||||
| 载波抑制 | X | |||||
| 误差矢量幅度(维生素) | X | X |
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引用
书的生产测试射频和无线通信的系统级芯片设备由Keith b .他和乔·凯利
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